泰克TLA7SA00系列邏輯分析儀榮獲最佳測(cè)試獎(jiǎng)
中國北京，2011年5月25日---全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器提供商--泰克公司日前宣布，其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評(píng)獎(jiǎng)活動(dòng)中榮獲“最佳測(cè)試獎(jiǎng)”（Best in Test Award）。
在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)大會(huì)”（Embedded Systems Conference）舉行期間進(jìn)行的頒獎(jiǎng)儀式上，TLA7SA00系列邏輯分析儀被授予“總線分析儀”類別的最佳產(chǎn)品獎(jiǎng)。“最佳測(cè)試”獎(jiǎng)分16個(gè)類別。參加2011年“最佳測(cè)試獎(jiǎng)”評(píng)選的產(chǎn)品或服務(wù)必須是在2009年11月1日至2010年10月31日之間推出的產(chǎn)品或服務(wù)。
“我們?cè)俅螌?duì)各廠商提名的許多出色產(chǎn)品進(jìn)行了評(píng)審”，UBM Electronics旗下雜志《Test & Measurement World》的編輯部主任Rick Nelson表示，“我們向泰克公司取得這一成就表示祝賀。”
TLA7SA00系列是泰克去年四月推出的綜合性PCI Express 1.0/2.0/3.0測(cè)試解決方案，集協(xié)議分析與物理分析于一體。該解決方案包括TLA7SA16和TLA7SA08邏輯協(xié)議分析儀模塊、總線支持軟件及探頭，為PCIe開發(fā)者了解系統(tǒng)行為提供了獨(dú)一無二的時(shí)間相關(guān)視圖，從協(xié)議分析開始一直到物理層分析，幫助查找棘手
