產品名稱：博大精科 微區XRF110黃金首飾分析儀
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產品介紹：

 X射線熒光（XRF）光譜法已經被確定為貴金屬首飾無損檢測的一種方法（GB/T180043-2000）。普通的XRF分析儀的照射區域比較大，因此不適用于精微細小、形狀復雜、甚至鑲嵌珠寶或其它貴金屬的首飾。微區XRF分析儀將一束初級X射線集中照射在很小的區域內（專利ZL94 1 12117.8），采用激光定位技術（專利ZL 97 2 35392.5），方便地選擇首飾上任意部位進行精確測量。

 隨著貴金屬首飾行業的發展和黃金市場的開放，對XRF分析儀提出更新更高的要求。根據廣大用戶的希望和要求，憑借其雄厚的技術優勢，對原來的黃金首飾分析儀進行重大的技術改進，目標是在保證微區分析特點和分析精密度的基礎上，使儀器更小，更輕，性能更可靠，使用、搬運和維修更方便，價格更便宜。與原來的儀器相比，新一代的微區XRF400黃金首飾分析儀具有以下技術改進：

　　1．儀器采用模塊式結構，由高壓油箱、高壓電源、探測系統、探測器電源、三維樣品臺、激光定位器、控制電路、多道分析器八個模塊緊湊地組裝在機箱內。每個模塊可以很方便地裝卸和更換。
　　2．高壓油箱采用金屬密封，不僅體積小、重量輕，易于搬運，而且使高壓絕緣油與空氣隔絕，從而提高X 光源的可靠性。高壓油箱底部的定位孔使安裝準確而方便。
　　3．在激光定位專利技術ZL97 2 35392.5的基礎上，又發明了雙激光定位技術，實現三維定位，使用時不僅可以方便地選擇首飾上任意部位進行測量，而且可以方便地調節樣品的高度，保證測量精密度。
　　4．三維樣品臺的結構緊湊，移動平穩，X-Y二維移動由一個手控制，操作方便。降低了樣品臺的最低點，最大的被測樣品高度增加。  
    5．探測系統中使用ZNJ30正比計數器，能量分辨率改善20%，平均使用壽　　命提高一倍。  
　　6．儀器體積縮小到原來的48%，儀器重量減輕到原來的41%。  
　　7．計算機軟件也有重大改進，對金飾品能定量計算金、銀、銅、鋅、鎳五種元素的含量；對鉑飾品能定量計算鉑、鈀、銀、銅、鎳五種元素的含量；對銀飾品能定量計算銀、銅、鋅、鎳四種元素的含量。能夠自動識別鍍金和K金飾品，鍍白和鉑金飾品等。 
　　8．儀器成本下降，售價比原來儀器下降20%。

與原來儀器相比，新產品微區XRF400黃金首飾分析儀的不足之處是： 
　　1．三維樣品臺的移動距離比原來小，它的最大荷重也較小。
　　2．測量區域由原來的Φ0.5mm增加到Φ0.7mm。如果要維持Φ0.5mm或者更小，測量時間要相應增加。

微區XRF黃金首飾分析儀的主要參數