產(chǎn)品名稱：博大精科 x-3680 黃金檢測儀
★
商城價(jià)：咨詢
★
詳細(xì)簡紹：
 
X-3680貴金屬檢測系統(tǒng)簡介
 

X-3680是一種體現(xiàn)X射線熒光分析技術(shù)最新進(jìn)展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，高分辨率電制冷Si-pin半導(dǎo)體探測器為探測單元，多種準(zhǔn)直器與濾波片，再加上我公司專門開發(fā)的應(yīng)用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應(yīng)性。任何需要多元素同時(shí)分析的地方，正是它大有作為之處。

儀器檢測能力強(qiáng)，分辨率高，適用于各行業(yè)對不同元素進(jìn)行無損檢測。在不同工作環(huán)境下分析范圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。無損分析迅速，無需制樣，測試時(shí)間從幾秒到幾分鐘可調(diào)，檢測精度從PPM級別到千分之一級別。

X-3680貴金屬檢測系統(tǒng)組成
 

X-3680貴金屬檢測儀一臺
密度檢測儀一臺
貴金屬分析軟件一套
密度分析軟件一套
 

X-3680貴金屬檢測系統(tǒng)整體技術(shù)參數(shù)與指標(biāo)
 

1. 分析元素范圍：從鋁（13號元素）到鈾（92號元素）

2. 元素分析含量范圍：1ppm到99.99%

3. 元素同時(shí)分析能力：26種元素

4. 測量樣品型態(tài)：固體，粉末，液體

5. 探測器：美國AMPTEK原裝進(jìn)口Si-Pin探測器，探測面積6mm2分辨率139eV

6. X光管：W靶X光管，對金銀鉑鈀等貴金屬激發(fā)效率更高

7. 高壓電壓：穩(wěn)定的高壓電源，最大功率50W，50kV,1mA

8. 濾波片：4種濾波片與準(zhǔn)直器自動切換

9. 放大器：自主研發(fā)的新型放大器，提高信噪比。

10. 密度檢測系統(tǒng)：密度檢測儀及檢測軟件一套，可以對樣品的密度進(jìn)行準(zhǔn)確分析鑒定，從而實(shí)現(xiàn)對未知樣品內(nèi)部材料的定性定量分析（本系統(tǒng)具有唯一專利性）

11. 鍍層檢測：儀器可對不同基體上的不同金屬鍍層進(jìn)行多層檢測，并得出準(zhǔn)確結(jié)果（使用者可以根據(jù)需求進(jìn)行二次開發(fā)）

12.樣品成像定位系統(tǒng)：內(nèi)置自感光攝像頭及先進(jìn)的定位軟件，方便樣品的局部定位測量

13.測量精度：以黃金樣品為例

高含量樣品 （含量在97%以上）誤差±0.1%

中高含量樣品（含量在75%以上）誤差±0.1%-0.3%

低含量樣品 （含量在75%以下）誤差±0.3%

可區(qū)分黃金99.9%與99.99%。

14.測量時(shí)間：60秒到180秒可調(diào)，一鍵式快速測量3.5秒可出結(jié)果

15.測量次數(shù)：任意可調(diào)，且在多次測量時(shí)可做平均值及標(biāo)準(zhǔn)偏差測量

16.定量分析方法：基本參數(shù)法，理論Alpha系數(shù)法，經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法，多元回歸法等（國內(nèi)同行業(yè)率先采取此類綜合計(jì)算方法）

17.定性分析方法：元素自動尋峰，Kl譜線標(biāo)記法，峰譜比對法等

18.操作軟件：開放的可供客戶自行開發(fā)和升級的工作軟件，真正實(shí)現(xiàn)零費(fèi)用升級，使一機(jī)多能。

19.操作模式：一鍵式操作全電腦控制與人工選擇測試方法兩種測試模式，滿足不同測試單位和測試人員的要求

20.銀銅雙峰位校準(zhǔn)：銀，銅雙峰位同時(shí)校準(zhǔn)，使儀器校準(zhǔn)更加精準(zhǔn)，隨時(shí)修正工作曲線，使測量結(jié)果達(dá)到最高精度（同行業(yè)中唯一采取此校準(zhǔn)方法）

21.峰位自調(diào)系統(tǒng)：實(shí)時(shí)監(jiān)測系統(tǒng)狀態(tài)，當(dāng)儀器峰位有所偏移時(shí)，軟件可自動調(diào)試恢復(fù)儀器到正常測量狀態(tài)（同行業(yè)中唯一采取軟件峰位自調(diào)系統(tǒng)）

22.三重防輻射系統(tǒng)：配備光電快門裝置，更換樣品時(shí)X光管自動切斷電壓電流；樣品倉打開，X光管快門自動閉鎖；儀器多層屏蔽艙蓋，有效防止X射線外溢.

23.溫度控制系統(tǒng)：內(nèi)部風(fēng)冷水冷雙循環(huán)冷卻，最大限度降低X光管工作溫度延長光管使用壽命，且保證儀器長時(shí)間工作穩(wěn)定，測量精度準(zhǔn)確

24.硬件結(jié)構(gòu)：儀器雙箱體結(jié)構(gòu)，有效屏蔽干擾，增加儀器整體穩(wěn)定性

25.超大樣品倉：方便大型樣品的檢測

26.測試報(bào)告：測試報(bào)告根據(jù)客戶要求獨(dú)立設(shè)計(jì)

27.其他應(yīng)用：可加ROHS、鹵素等有毒有害物質(zhì)的檢測程序

28.精確測量黃金鉑金當(dāng)中的銥元素，可測量2%左右的銥含量，領(lǐng)先國內(nèi)競爭對手！

X-3680貴金屬檢測系統(tǒng)硬件技術(shù)規(guī)格
 

1. 外型尺寸：600mm×530mm×330mm

2. 可測試樣品大小：關(guān)倉測量：220mm×200mm×150mm，開倉測量：無限大

3. 儀器重量：50公斤

4. 工作環(huán)境溫度：10—30℃

5. 工作環(huán)境相對濕度：≤80%

6. 元素分析范圍：鋁（Al）——鈾（U）

7. 含量分析范圍：1PPM——99.99%

8. 測量時(shí)間:60秒到180秒可調(diào)，一鍵式快速測量3.5秒可出結(jié)果。

9. 激發(fā)源：低功率X射線管

10.高壓電源：穩(wěn)定的長效高壓電源

11.探測器：美國Amptek原裝進(jìn)口電制冷Si-Pin半導(dǎo)體探測器

12.整機(jī)分辨率：錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率為165±10eV（完全符合中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會2008年12月31日發(fā)布2009年7月1日實(shí)施GB/T 18043--2008最新標(biāo)準(zhǔn)對X射線熒光光譜分析儀：錳元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少為200eV標(biāo)準(zhǔn)要求）。

13.多道分析器：2048道

14.工作電源：交流220V  50Hz

X-3680貴金屬檢測系統(tǒng)進(jìn)口探測器性能指標(biāo)
 

1. 生產(chǎn)廠商：美國Amptek公司

2. 探測器類型：電制冷Si-PIN

3. 探測面積：6mm2

4. 硅活化區(qū)厚度：500um

5. 探測器分辨率：對于55Fe，@5.9keV 對于12us的形成時(shí)間，半高寬為139eV

6. 探測器窗口：鈹窗，12.5um厚

X-3680貴金屬檢測系統(tǒng)高壓電源規(guī)格
 

1. 生產(chǎn)廠商：威斯曼公司

2. 電壓和電流從零至滿量程連續(xù)可調(diào)：最大50KV，1mA

3. 電壓調(diào)整率：負(fù)載調(diào)整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程0.01 %

4. 線性調(diào)整率：對于規(guī)定的輸入電壓范圍，該數(shù)值為滿量程0.01%

5. 電流調(diào)整率：負(fù)載調(diào)整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01%

  線性調(diào)整率：對于規(guī)定的輸入電流范圍，該數(shù)值為滿量程0.01%

6. 穩(wěn)定性：經(jīng)過半小時(shí)預(yù)熱后，每8小時(shí)變化不超0.05%

7. 溫度系數(shù)：溫度變化一度，電壓變化不超過0.01%