產品名稱：日本折原 LSM-4400LE 偏光應力儀
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商城價：咨詢
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產品描述：
適合于檢測燈等有復雜構造的產品。
檢測高密度的塑料產品，如隱形眼鏡等。
檢測光學晶體，如氟化鈣（螢石）等。
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詳細參數：

型號	LSM-4400LE
尺寸	W280×D375×H460mm
重量	10KG
測樣有效長度	W200×D200mm
測定空間高度	31-250mm
光源	LED燈
電源	交流220V
附件	應力方向確認棒  清潔液1瓶  波長檢板 2個

規格:
1、偏光應力儀光場亮度≥120cd/m2（熒光燈30W）
2、偏光應力儀偏振元件任何一點的偏振度大于等于百分之九十九
3、該款應力儀偏振場200*200mm
4、偏光應力儀構造：檢偏鏡和起偏鏡之間分別置入1/4波片及全波片（波長為565nm），波片的慢軸與起偏鏡的偏振平面成90度
5、檢偏鏡最上面有旋轉角度的測量裝置（刻度值為1度，最大測量范圍為180度）
檢測方法：
1. Crossed Nicols 觀測法
2.Sensitive Color Method 感光色檢測法
3. SenarmonMethod 補償法
   Senarmont補償法可以進行應力定量分析檢測。打開電源，未放樣品整個視野范圍是黑褐色的，放入樣品，不旋轉檢偏鏡，觀測出最亮點即為應力最大點。旋轉檢偏鏡上的刻度盤，直至最亮點變成黑褐色，記錄此時刻度盤旋轉的角度及該點的厚度，即可用公式換算出應力值。
計算公式：計算公式：應力＝光程差/(被測點的光路長 * 光彈系數)
          Mpa ＝nm/[cm * (nm/cm)/Mpa]